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Q: State whether the following statements are true or false in relation to transformer testing. 1. An open circuit test is conducted to determine copper losses. 2. A copper circuit test is conducted to determine core losses. ट्रांसफार्मर परीक्षण के संबंध में निम्नलिखित कथनों की सत्य या असत्य के रूप में पहचान कीजिए। 1. ताम्र हानियों को निर्धारित करने के लिए एक खुला परिपथ परीक्षण किया जाता है। 2. कोर हानियों को निर्धारित करने के लिए लघु परिपथ किया जाता है।
  • A. Statement 1 is false; Statement 2 is true कथन 1 असत्य है; कथन 2 सत्य है
  • B. Statement 1 is false; Statement 2 is false कथन 1 असत्य है; कथन 2 असत्य है
  • C. Statement 1 is true ; Statement 2 is false कथन 1 सत्य है; कथन 2 असत्य है
  • D. Statement 1 is true ; Statement 2 is true /कथन 1 सत्य है; कथन 2 सत्य है
Correct Answer: Option B - दिया गया उपरोक्त दोनों कथन असत्य है। ∎ चूंकि ट्रांसफार्मर परीक्षण में ताम्र हानियों को निर्धारित करने के लिए लघु परिपथ परीक्षण किया जाता है। ∎ कोर हानियों को निर्धारित करने के लिए खुला परिपथ (open circuit) परीक्षण किया जाता है। ∎ खुला-परिपथ परीक्षण करते समय उच्च वोल्टता साइड (H.V.) खुला परिपथ रखा जाता है। ∎ लघु-परिपथ परीक्षण करते समय निम्न वोल्टता साइड (LV) लघु (short) परिपथ किया जाता है। जबकि मापन उपयन्त्र (HV) साइड अर्थात प्राथमिक साइड में संयोजित किया जाता है।
B. दिया गया उपरोक्त दोनों कथन असत्य है। ∎ चूंकि ट्रांसफार्मर परीक्षण में ताम्र हानियों को निर्धारित करने के लिए लघु परिपथ परीक्षण किया जाता है। ∎ कोर हानियों को निर्धारित करने के लिए खुला परिपथ (open circuit) परीक्षण किया जाता है। ∎ खुला-परिपथ परीक्षण करते समय उच्च वोल्टता साइड (H.V.) खुला परिपथ रखा जाता है। ∎ लघु-परिपथ परीक्षण करते समय निम्न वोल्टता साइड (LV) लघु (short) परिपथ किया जाता है। जबकि मापन उपयन्त्र (HV) साइड अर्थात प्राथमिक साइड में संयोजित किया जाता है।

Explanations:

दिया गया उपरोक्त दोनों कथन असत्य है। ∎ चूंकि ट्रांसफार्मर परीक्षण में ताम्र हानियों को निर्धारित करने के लिए लघु परिपथ परीक्षण किया जाता है। ∎ कोर हानियों को निर्धारित करने के लिए खुला परिपथ (open circuit) परीक्षण किया जाता है। ∎ खुला-परिपथ परीक्षण करते समय उच्च वोल्टता साइड (H.V.) खुला परिपथ रखा जाता है। ∎ लघु-परिपथ परीक्षण करते समय निम्न वोल्टता साइड (LV) लघु (short) परिपथ किया जाता है। जबकि मापन उपयन्त्र (HV) साइड अर्थात प्राथमिक साइड में संयोजित किया जाता है।